日本JUSTEM晶圆检测/测量设备手动测厚机 STM-06手动手柄和秤允许在固定位置进行测量。

内置打印机的膜厚计测量统计打印KETT/日本L-500内置打印机膜厚仪机型电磁探头和涡流探头单独出售（必需选件）块/组统计计算功能

中型双式膜厚计电磁和涡流探头涂层测厚仪KETT/日本LZ-373中型双膜测厚仪包括电磁探头和涡流探头测量范围 电磁式：0～2500 µm，涡流式：0～...

高频涡流膜厚仪测厚仪非磁性金属上的膜厚度KETT/日本LH-373测量非磁性金属上的绝缘膜厚度中型涡流膜厚仪测量范围0~1200μm数据内存39000点，统计计...

电磁膜厚计厚度测量电磁式镀层测厚仪KETT/日本LE-373测量磁性材料上非磁性涂层的厚度中型电磁膜厚仪测量范围0~2500μm数据内存39000点，统计计算功...

双型膜厚计涂层测厚仪内置传感器KETT/日本LZ-990“Escal"经济且紧凑的双膜厚度计，带内置传感器配备自动基材判别功能测量范围：0~2000μm约100...